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WRS-1B數(shù)字熔點(diǎn)儀
產(chǎn)品介紹測(cè)定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度。主要用于藥物、染料、香料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)之測(cè)定。光電檢測(cè)，數(shù)字顯示。配有RS232接口，可向PC機(jī)傳輸數(shù)據(jù)，顯示熔化曲線(xiàn)。 技術(shù)參數(shù)熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至300℃
溫度顯示最小示值：0.1℃
線(xiàn)性升溫速率：0.2,0.5,1.0,1.5，2.0,3.0,4.0,5.0(℃/min)
測(cè)量準(zhǔn)確率：＜200℃±0.5℃
200℃～300℃時(shí)：±0.8℃
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SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀 |
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X4|X5|X6系列顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀 |
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SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯 |
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SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀 |
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RDY-1顯微熔點(diǎn)儀 |
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WRR熔點(diǎn)儀 |
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